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名称 Computed electron micrographs and defect identification
索引号 O483/E803
分类号 O483
O483(固体缺陷)
O48(固体物理学)
O4(物理学)
O(数理科学和化学)
作者
出版社 London: Amsterdam, North-Holland Pub. Co., 1973.
ISBN
页数 x, 400 p. with illus. 23 cm.
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