大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 薄膜测量与分析(分类号：O484.5)(共2本)
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薄膜结构X射线表征0索取号：O484.5/20081 作者：麦振洪、 出版社：北京 : 科学出版社, 2007 |  |
椭圆偏振测量和偏振光0索取号：O484.5/871 作者：阿查姆 R.M.A.、巴夏拉 N.M.、梁民基、尹树拍、张福初、 出版社：北京 : 科学出版社, 1986 |
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