大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » (分类号：TN2-532/E20044)(共1本)
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Noise and information in nanoelectronics, sensors, and standards : 2-4 June 2003, Santa Fe, New Mexico, USA0索取号：TN2-532/E20044/2003 作者： 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, c2003. |
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Noise and information in nanoelectronics, sensors, and standards : 2-4 June 2003, Santa Fe, New Mexico, USA0索取号：TN2-532/E20044/2003 作者： 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, c2003. |
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