大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 可靠性及例行试验(分类号：TN406)(共1本)

Hybrid microcircuit reliability data

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索取号：TN406/E801
作者：IIT Research Institute.、Reliability Analysis Center (U.S.)、
出版社：Oxford ; New York : Pergamon Press, 1975, c 1976.
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