 |
0 索取号:TN711/E902 作者:Walton、 A. K. (Alan Keith)、 1933-、 出版社:Cambridge [Cambridgeshire] ; New York : Cambridge University Press, 1987
|  |
0 索取号:TN7/E907 作者:Rajagopalan、 Venkatachari、 1939-、 出版社:New York : Dekker, c1987.
|
 |
0 索取号:O212/E20041 作者: 出版社:Cambridge [England] ; New York, N.Y. : Cambridge University Press, 2002.
|  |
0 索取号:Q-332/E20036 作者:Quinn、 G.P. (Gerald Peter)、 1956-、Keough、 Michael J.、 出版社:Cambridge, UK : Cambridge University Press, 2002.
|
 |
0 索取号:TN153-53/E803/1977 作者: 出版社:Bristol : Institute of Physics, 1977.
|  |
0 索取号:TN146.8-53/E801/7 作者:National Conference on Electron Probe Analysis (7th : 1972 : San Francisco)、Electron Probe Analysis Society of America.、 出版社:Pittsburgh : L. Vassamillet, Carnegie-Mellon University, [1972?]
|
 |
0 索取号:TN146.8-53/E801/6 作者:National Conference on Electron Probe Analysis (6th : 1971 : Pittsburgh、 Pennsylvania)、Electron Probe Analysis Society of America.、 出版社:Pittsburgh, Pennsylvania : Pittsburgh Hilton Hotel, 1971.
|  |
0 索取号:TP303/E20031 作者:Navabi、 Zainalabedin.、 出版社:New York : McGraw-Hill, c1993.
|
 |
0 索取号:F830.08/E809.5 作者:Bernstein、 Leopold A.、 出版社:Homewood, IL : Irwin, c1993.
|  |
0 索取号:F275/E20033.4-2 作者:Higgins、 Robert C.、 出版社:Boston, Mass. ; Chicago : Irwin, c1995.
|
 |
0 索取号:TN312.2/E701 作者:Scanlan、 J. O、 出版社:New York : Wiley, [c1966].
|  |
0 索取号:F753.390/E20041 作者: 出版社:Singapore : Singapore department of statistics, 2000.
|
 |
0 索取号:TB33-532/E20041/5 作者:International Conference on Durability Analysis of Composite Systems (5th : 2001 : Tokyo、 Japan)、Miyano、 Yasushi.、 出版社:Lisse [Netherlands] ; Exton, PA : Balkema, c2002.
|  |
0 索取号:TN92/E20035 作者:Stavroulakis、 Peter.、 出版社:Boston : Artech House, c2003.
|
 |
0 索取号:O177.91/E20031 作者:Denkowski、 ZdzisłАw、 1940-、MiǵОrski、 StanisłАw、 1961-、Papageorgiou、 Nikolaos Socrates.、 出版社:Boston : Kluwer Academic Publishers, c2003.
|  |
0 索取号:F830.91/E20042 作者:Raynes、 Sylvain.、Rutledge、 Ann.、 出版社:Oxford ; New York : Oxford University Press, 2003.
|