 |
0 索取号:R192.6/E801 作者:King、 Elizabeth C.、 1941-、 出版社:St. Louis : Mosby, 1979.
|  |
0 索取号:O647.3/E902 作者: 出版社:New York : M. Dekker, c1985.
|
 |
0 索取号:F403.7/E901 作者: 出版社:New York : United Nations, 1980.
|  |
0 索取号:O4-51/E8021 作者:NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices (1978 : Villa Tuscolano、 Italy)、Zemel、 Jay N.、North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division.、 出版社:New York : Plenum Press, c1979.
|
 |
0 索取号:Q14/E905 作者:Spellerberg、 Ian F.、 出版社:London : E. Arnold, 1981.
|  |
0 索取号:TB302.5/E902 作者:Silvus、 H. S.、 出版社:San Antonio, Tex. : Nondestructive Testing Information Analysis Center, 1980-
|
 |
0 索取号:O212.67-62/E801 作者: 出版社:Beverly Hills, Calif. : Sage Publications, c1975.
|  |
0 索取号:G420/E802.5 作者:Gronlund、 Norman Edward、 1920-、 出版社:New York : Macmillan ; London : Collier Macmillan, c1985.
|
 |
0 索取号:G420/E802.3 作者:Gronlund、 Norman Edward、 1920-、 出版社:New York : Macmillan, c1976.
|  |
0 索取号:G408/E805 作者:Asher、 John William、 1927-、 出版社:Boston : Little, Brown, c1976.
|
 |
0 索取号:G659.712.22/E901 作者: 出版社:Boston : Kluwer Academic, c1988.
|  |
0 索取号:G44/E804 作者:Meier、 John、 1935-、 出版社:Baltimore : University Park Press, c1976.
|
 |
0 索取号:G44/E705.3 作者:Thorndike、 Robert Ladd、 1910-、Hagen、 Elizabeth P.、 1915- joint author.、 出版社:London, John Wiley & Sons, New York : Wiley, c1969,1977
|  |
0 索取号:F810.3/E991 作者: 出版社:London : New Brunswick (U.S.A.) : Transaction Publishers, c1993.
|
 |
0 索取号:F407.7/E902 作者:Valle-Riestra、 J. Frank.、 出版社:New York : McGraw-Hill, c1983.
|  |
0 索取号:F407.7/E901 作者:Axtell、 Oliver、 1926-、Robertson、 James M.、 1923-、 出版社:New York : Wiley, c1986.
|