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0 索取号:G571.2/E20041 作者: 出版社:Cambridge, UK ; New York : Cambridge University Press, 2004.
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0 索取号:F830.59/E20038 作者:Mak、 Don K.、 出版社:Singapore : World Scientific, c2003.
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0 索取号:F270-05/E20041 作者:Hopkins、 Michael、 1945 Nov. 16-、 出版社:London ; Sterling, VA : Earthscan Publications, 2003.
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0 索取号:D815.7/E20041 作者:Ramcharan、 B. G.、 出版社:The Hague ; London ; New York : Martinus Nijhoff Publishers, c2002.
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0 索取号:H0-05/E20039 作者:Phillips、 Nelson、Hardy、 Cynthia、 1956-、 出版社:Thousand Oaks, CA : Sage Publications, 2002.
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0 索取号:B841/E20032 作者: 出版社:London ; Thousand Oaks : SAGE, 2003.
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0 索取号:TN406/E801 作者:IIT Research Institute.、Reliability Analysis Center (U.S.)、 出版社:Oxford ; New York : Pergamon Press, 1975, c 1976.
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0 索取号:TN4-62/E805 作者:Hamilton、 Thomas Daniel Scott.、 出版社:Maidenhead, Eng. : McGraw-Hill, c1977.
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0 索取号:TN43-53/E701/1975 作者:IEEE International Solid-State Circuits Conference (1975 : Philadelphia、 Pa.)、Winner、 Lewis、 1906-、Raper、 J. A. A.、Winner、 B. K.、University of Pennsylvania.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.、IEEE Solid-State Circuits Council.、 出版社:New York, N.Y. : Lewis Winner, 1975.
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0 索取号:TN27-53/E801 作者:Symposium on Current Mathematical Problems in Image Science (1976 : Monterey、 Calif.)、Wilde、 Carroll O.、Barrett、 Eamon.、 出版社:North Hollywood, Calif. : Western Periodicals Co., 1977.
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0 索取号:TN153-53/E804/1972 作者:Illinois Institute of Technology. Research Institute.、Johari、 Om.、Corvin、 Irene.、 出版社:Chicago, Ill. : IITRI, 1972.
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0 索取号:C8/E20031.2 作者:Elifson、 Kirk W.、 1943-、Runyon、 Richard P.、Haber、 Audrey.、 出版社:New York : McGraw-Hill, c1990.
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0 索取号:C912.6/E20035.5 作者:Myers、 David G.、 出版社:New York : McGraw-Hill, c1996.
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0 索取号:R595.4/E20031 作者:Platt、 Jerome J.、 出版社:Cambridge, Mass. : Harvard University Press, 1997.
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0 索取号:R73-31/E20041 作者:Fujimura、 Joan H.、 出版社:Cambridge, Mass. : Harvard University Press, 1996.
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0 索取号:V211/E20041 作者:Tennekes、 H. (Hendrik)、 出版社:Cambridge, Mass. : MIT Press, 1996.
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