大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 测量和检验 » Semiconductor measurements and instrumentation
名称 Semiconductor measurements and instrumentation
索引号 TN307/E801
分类号 TN307
TN307(测量和检验)
TN30(一般性问题)
TN3(半导体技术)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 Runyan、 W. R.、
出版社 New York : McGraw-Hill, [1975]
ISBN
页数 vii, 280 p. : ill. ; 26 cm.
价格
标签
简介
注解