大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 一般性问题 » Rational fault analysis
名称 Rational fault analysis
索引号 TN106/E802
分类号 TN106
TN10(一般性问题)
TN1(真空电子技术)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 Symposium on Rational Fault Analysis、 Texas Tech University、 1974.、Saeks、 Richard、 1941-、Liberty、 Stanley R.、 1942-、United States. Office of Naval Research.、United States. Army Research Office.、
出版社 New York : M. Dekker, 1977.
ISBN
页数 ix, 241 p. : ill. ; 24 cm.
价格
标签
简介
注解 Co-sponsored by the Office of Naval Research and the Army Research Office. 附註 Includes bibliographies and index.