大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 内存贮器(主存贮器)总论 » Digest of papers : testing to integrate semiconductor memories into computer mainframes
名称 Digest of papers : testing to integrate semiconductor memories into computer mainframes
索引号 TP333.15/E802
分类号 TP333.15
TP333.1(内存贮器(主存贮器)总论)
TP333(存贮器)
TP33(电子数字计算机(不连续作用电子计算机))
TP3(计算技术、计算机技术)
TP(自动化技术计算技术技术)
T(工业技术)
作者 Semiconductor Memory Test Symposium (1972 : Cherry Hill、 N.J.)、IEEE Computer Society. Mideastern Area Committee.、Institute for Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Chapter.、
出版社 New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1973.
ISBN
页数 96 p. : ill. ; 28cm.
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