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名称 Design-for-test for digital IC's and embedded core systems = 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
索引号 TN431.2/E20043
分类号 TN431.2
TN431.2(数字集成电路、逻辑集成电路)
TN431(双极型)
TN43(半导体集成电路（固体电路）)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 Crouch、 Alfred L.、
出版社 北京 : 中国电力出版社, 2004.
ISBN
页数 xxviii, 347 p. : ill. 24 cm.
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简介
注解 Reprint. Originally published: Upper Saddle River : Prentice Hall PTR, c1999. 0130848271.