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| 名称 | 材料分析测试技术 : 材料X射线衍射与电子显微分析 |
| 索引号 | TB302.1/20001.2 |
| 分类号 | TB302.1 TB302.1(物理试验法) TB302(工程材料试验) TB30(工程材料一般性问题) TB3(工程材料学) TB(一般工业技术-工业技术) T(工业技术) |
| 作者 | 周玉、武高辉、 |
| 出版社 | 哈尔滨 : 哈尔滨工业大学出版社, 2007 |
| ISBN | 978-7-5603-1338-2 |
| 页数 | 311页 : 图 ; 26cm |
| 价格 | CNY26.80 |
| 标签 | 材料分析、x射线、材料分析测、电子衍射、材料学、专业、中国、 |
| 简介 | |
| 注解 | 英文并列题名取自封面 有书目 (第311页) 本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析等,书后还附有实验指导。 高等学校经典畅销教材 |
书籍简介
《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。



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