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名称 Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis
索引号 TN16/E801
分类号 TN16
TN16(电子光学仪器)
TN1(真空电子技术)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 Goldstein、 Joseph、 1939-、Yakowitz、 Harvey、 1939- joint author.、
出版社 New York : Plenum Press, [1975]
ISBN
页数 xviii, 582 p. : ill. ; 24 cm.
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