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名称 Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits [electronic resource] : 2nd Edition
索引号
分类号
(| 08 环境公报)
作者 Sachdev、 Manoj.、Gyvez、 Jos茅 Pineda de.、SpringerLink (Online service)、
出版社 Boston, MA : Springer US, 2007.
ISBN
页数 XXI, 328 p. digital.
价格 doi
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简介
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