大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » TP21/27 各种自动化元件、部件、装置、系统(分类号:TP21)(共404本)

分类依据:可依TP20分。例:自动化系统故障的排除为TP270.6+3。

传感器与检测技术

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索取号:TP212/20074
作者:祝诗平、
出版社:北京 : 中国林业出版社 : 北京大学出版社, 2006

秦氏模型--基于智能虛拟控件的仪器

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索取号:TP216/20072
作者:尹爱军、王见、周传德、
出版社:北京 : 科学出版社, 2007

现代传感器技术

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索取号:TP212/20079
作者:周旭、
出版社:北京 : 国防工业出版社, 2007

传感器与执行器大全 : 传感器 ·变送器·执行器

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索取号:TP212-62/982
作者:张福学、中国电子学会 敏感技术分会、北京电子学会、北京电子商务传感器分会、
出版社:北京 : 电子工业出版社, 1997-

Handbook of modern sensors : physics, designs, and applications

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索取号:TP212/E20022.2
作者:Fraden、 Jacob.、
出版社:Woodbury, N.Y. : American Institute of Physics, 1996.

Sensor dynamics [electronic resource]

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索取号:TP212/E20012
作者:
出版社:Southampton : Computational Mechanics Publications, c1996.

Microsensors, MEMS and smart devices

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索取号:TP212/E20021
作者:Gardner、 J. W. (Julian W.)、 1958-、Varadan、 Vijay K.、Awadelkarim、 Osama O.、
出版社:Chichester : John Wiley & Sons, Ltd, c2001.

Proceedings of advances in fluorescence sensing technology IV : 24-27 January 1999, San Jose, California

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索取号:TP212.14/E20011/4
作者:
出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.

Advanced photonic sensors and applications : 30 November-3 December 1999, Singapore

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索取号:TP212.9/E20012
作者:
出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.

Harsh environment sensors II : 19 September 1999, Boston, Massachusetts

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索取号:TP212.9/E20011
作者:Anbo Wang、Wang、 Anbo.、Society of Photo-optical InstrumentationEngineers.、Air & Waste Management Association. Optical Sciences Division.、SPIE Boston、Massachusetts 19 September 1999、
出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.

Biosensors and their applications

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索取号:TP212.3/E20011
作者:
出版社:New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2000.

Sensors update. v. 5

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索取号:TP212/E20011/5
作者:
出版社:Weinheim ; New York : Wiley-VCH, <c1998-c2000 >

Autotestcon '85, November 1,2,3, Hyatt Regency, Tarrant County Convention Center, Fort Worth, Texas new horizons in automatic testing

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索取号:TP216-53/E901/1985
作者:IEEE International Automatic Testing Conference (1985 : Fort Worth、 Tex.)、Institute of Electrical and Electronics Engineers.、
出版社:New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Piscataway, NJ : Copies from Order Dept., IEEE, 1985.47,c1983.

Curriculum for test technology : M.E.I.S. Center, University of Minnesota, Minneapolis, 1983, November 16-17, 1983

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索取号:TP216-53/E902/1983
作者:
出版社:N.J. Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press ; Los Angeles, CA : Order from IEEE Computer Society, 1983.

Autotestcon '82, October 12-14 : 1982 IEEE International Automatic Testing Conference, Dayton Convention Center, Dayton, Ohio

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索取号:TP216-53/E901/1982
作者:IEEE International Automatic Testing Conference (1982 : Dayton、 Ohio)、Institute of Electrical and Electronic Engineers.、
出版社:New York, N.Y. (345 E. 47th St., New York 10017) : IEEE, c1982.

ATE : automatic test equipment

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索取号:TP216/E901
作者:Stover、 Allan C.、
出版社:New York : McGraw-Hill Book Co., 1984.
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