分类依据:可依TP20分。例:自动化系统故障的排除为TP270.6+3。 |
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0 索取号:TP212/20074 作者:祝诗平、 出版社:北京 : 中国林业出版社 : 北京大学出版社, 2006
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0 索取号:TP216/20072 作者:尹爱军、王见、周传德、 出版社:北京 : 科学出版社, 2007
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0 索取号:TP212/20079 作者:周旭、 出版社:北京 : 国防工业出版社, 2007
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0 索取号:TP212-62/982 作者:张福学、中国电子学会 敏感技术分会、北京电子学会、北京电子商务传感器分会、 出版社:北京 : 电子工业出版社, 1997-
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0 索取号:TP212/E20022.2 作者:Fraden、 Jacob.、 出版社:Woodbury, N.Y. : American Institute of Physics, 1996.
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0 索取号:TP212/E20012 作者: 出版社:Southampton : Computational Mechanics Publications, c1996.
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0 索取号:TP212/E20021 作者:Gardner、 J. W. (Julian W.)、 1958-、Varadan、 Vijay K.、Awadelkarim、 Osama O.、 出版社:Chichester : John Wiley & Sons, Ltd, c2001.
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0 索取号:TP212.14/E20011/4 作者: 出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.
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0 索取号:TP212.9/E20012 作者: 出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.
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0 索取号:TP212.9/E20011 作者:Anbo Wang、Wang、 Anbo.、Society of Photo-optical InstrumentationEngineers.、Air & Waste Management Association. Optical Sciences Division.、SPIE Boston、Massachusetts 19 September 1999、 出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1999.
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0 索取号:TP212.3/E20011 作者: 出版社:New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2000.
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0 索取号:TP212/E20011/5 作者: 出版社:Weinheim ; New York : Wiley-VCH, <c1998-c2000 >
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0 索取号:TP216-53/E901/1985 作者:IEEE International Automatic Testing Conference (1985 : Fort Worth、 Tex.)、Institute of Electrical and Electronics Engineers.、 出版社:New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Piscataway, NJ : Copies from Order Dept., IEEE, 1985.47,c1983.
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0 索取号:TP216-53/E902/1983 作者: 出版社:N.J. Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press ; Los Angeles, CA : Order from IEEE Computer Society, 1983.
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0 索取号:TP216-53/E901/1982 作者:IEEE International Automatic Testing Conference (1982 : Dayton、 Ohio)、Institute of Electrical and Electronic Engineers.、 出版社:New York, N.Y. (345 E. 47th St., New York 10017) : IEEE, c1982.
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0 索取号:TP216/E901 作者:Stover、 Allan C.、 出版社:New York : McGraw-Hill Book Co., 1984.
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