分类依据：参见TP342。 |
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索取号：TP332.1/20086
作者：罗朝霞、高书莉、
出版社：北京 : 人民邮电出版社, 2007
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索取号：TP332.3/20075
作者：赵燕、周建新、
出版社：北京 : 中国林业出版社 : 北京大学出版社, 2006
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索取号：TP332/200819
作者：黄燕平、
出版社：北京 : 北京航空航天大学出版社, 2005
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索取号：TP332.3/20078
作者：程子华、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 2006
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索取号：TP332/E20011
作者：Lynch、 Mike.、
出版社：New York : McGraw-Hill, 1994.
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索取号：TP332/E20012
作者：Arnold、 Ken、 1958-、
出版社：Eagle Rock, VA : LLH Technology Publishing, c2001.
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索取号：TP332/E901
作者：Weir、 Maurice D.、
出版社：Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, 1981.
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索取号：TP332/E902
作者：White、 Donnamaie E.、 1942-、
出版社：New York : Garland STPM Press, 1981.
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索取号：TP332/E802
作者：Smith、 John I.、
出版社：New York, Wiley-Interscience [1971]
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索取号：TP332/E903
作者：Shepherd、 I. E.、
出版社：London ; New York : Longman, 1981.
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索取号：TP332/E905
作者：Elion、 Herbert A.、Morozov、 V. N. (Valentin N.)、 1938-、
出版社：New York : M. Dekker, 1984.
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索取号：TP332/E801
作者：Pressman、 Abraham I.、
出版社：Rochelle Park, N.J. : Hayden Book Co., 1977.
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索取号：TP332/E20061.5
作者：Brey、 Barry B.、
出版社：北京 : 高等教育出版社 ; Pearson Education, c2001.
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索取号：TP332.3/E20041
作者：Morton、 Todd D.、 1958-、
出版社：北京 : 科学出版社, 2003.
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索取号：TP332-53/E801/1973
作者：IEEE Symposium on Computer Software Reliability (1973 : New York City)、Institute for Electrical and Electronic Engineers.、
出版社：New York : IEEE, c1973.
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索取号：TP332/E904
作者：Den Otter、 J、
出版社：Englewood Cliffs, N.J. : Prentice Hall, c1988
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粤公网安备 44030602003680号