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名称 数字集成电路:电路、系统与设计:a design perspective
索引号 TN431.2-43/5
分类号 TN431.2-43
TN431.2(数字集成电路、逻辑集成电路)
TN431(双极型)
TN43(半导体集成电路(固体电路))
TN4(微电子学、集成电路(IC))
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 拉贝、钱德拉卡桑、尼科利奇、周润德、
出版社 北京:电子工业出版社,2004
ISBN 7-121-00383-X
页数 14, 553, [4] 页图版
价格 CNY58.00
标签 数字集成电路、教材、ic、微电子、电路设计、集成电路、电子、专业、
简介 国外电子与通信教材系列
注解 本书共分12章,分为三个部分,基本单元、电路设计和系统设计。在对MOS 器件和连线的特性做了简要介绍之后,深入分析了数字设计的核心——反相器、并逐步将这些知识延伸到组织逻辑电路、时序逻辑电路、控制器、运算电路以及存储器这些复杂数字电路与系统的设计中。
书籍简介

《国外电子与通信教材系列·数字集成电路:电路、系统与设计(第2版)》由美国加州大学伯克利分校JanM.Rabaey教授撰写。全书共12章,分为三个部分:基本单元、电路设计和系统设计。《数字集成电路——电路、系统与设计》在对MOS器件和连线的特性做了简要介绍之后,深入分析了数字设计的核心——反相器,并逐步将这些知识延伸到组合逻辑电路、时序逻辑电路、控制器、运算电路以及存储器这些复杂数字电路与系统的设计中。为了反映数字集成电路设计进入深亚微米领域后正在发生的深刻变化,第二版增加了许多新的内容,并以0.25微米CMOS工艺的实际电路为例,讨论了深亚微米器件效应、电路最优化、互连线建模和优化、信号完整性、时序分析、时钟分配、高性能和低功耗设计、设计验证、芯片测试和可测性设计等主题,着重探讨了深亚微米数字集成电路设计面临的挑战和启示。