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名称 SoC设计与测试：design and test
索引号 TP368.1/41
分类号 TP368.1
TP368.1(微处理机)
TP368(各种微型计算机)
TP36(微型计算机)
TP3(计算技术、计算机技术)
TP(自动化技术计算技术技术)
T(工业技术)
作者 拉伊什乌曼、于敦山、盛世敏、
出版社 北京：北京航空航天出版社，2003
ISBN 7-81077-308-9
页数 210页
价格 CNY35.00
标签 单片微型计算机、系统设计、
简介
注解 本书分为设计师和测试两个部分，分别介绍了SOC设计方法和测试方法，大设计部分介绍了在设计时会遇到的问题和传统的的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核，存储器核，及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SOC系统的验证方法，在测试部分，介绍SOC中逻辑核，存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍IDDQ测试大SOC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题。
书籍简介

《SoC设计与测试》分别介绍了SoC的设计方法和测试方法。并介绍了逻辑核、存储器核及其模拟核的设计方法和需要注意的问题。