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产品可靠性、维修性及保障性手册

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索取号:TH122-62/20121
作者:佩希特、王军锋、陈云斌、周宪、
出版社:北京 : 机械工业出版社, 2011

温度对微电子和系统可靠性的影响

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索取号:TN4/20093
作者:拉尔、佩希特、哈基姆、贾颖、张德骏、刘汝军、
出版社:北京 : 国防工业出版社, 2008
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