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先进封装材料

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索取号:TN04/20121
作者:吕道强、王正平、陈明祥、尚金堂、
出版社:北京 : 机械工业出版社, 2012

MEMS可靠性

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索取号:TM38/20101
作者:田畑修、土屋智由、宋竞、尚金堂、唐洁影、
出版社:南京 : 东南大学出版社, 2009
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