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超大规模集成电路测试 : 数字、存储器和混合信号系统0索取号：TN470.7/20061 作者：布什内尔、 M. L.、阿格拉瓦尔、 V. D.、蒋安平、冯建华、王新安、 出版社：北京 : 电子工业出版社, 2005 |
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