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微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems0索取号：TN4/20137 作者：刘建影、郭福、马立民、 出版社：北京 : 科学出版社, 2013 |  |
法学毕业论文写作0索取号：D90/200925 作者：马立民、冯志明、 出版社：天津 : 南开大学出版社, 2008 |
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微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems0索取号：TN4/20137 作者：刘建影、郭福、马立民、 出版社：北京 : 科学出版社, 2013 | |
法学毕业论文写作0索取号：D90/200925 作者：马立民、冯志明、 出版社：天津 : 南开大学出版社, 2008 |
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