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MTDT 2004 : records of the 2004 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing :9-10 August, 2004, San Jose, California, USA

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索取号：TP333-53/E20051/12
作者：IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、
出版社：Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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