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Reliability of Microtechnology [electronic resource] : Interconnects, Devices and Systems

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作者：Liu、 Johan.、Salmela、 Olli.、Sarkka、 Jussi.、Morris、 James E.、Tegehall、 Per-Erik.、Andersson、 Cristina.、SpringerLink (Online service)、
出版社：New York, NY : Springer New York, 2011.
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