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索取号：O212.6/E801.6-2
作者：Montgomery、 Douglas C.、
出版社：Hoboken, NJ : John Wiley & Sons, c2005.
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索取号：F270.7/E20054
作者：Fowler、 Martin、 1963-、
出版社：北京 : 中国电力出版社, 2004.
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索取号：F241.34/E20061
作者：
出版社：Oxford ; New York : Oxford University Press, c2004.
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索取号：TP333-53/E20051/12
作者：IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、
出版社：Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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索取号：TP312/E20054
作者：Stelting、 Stephen.、Maassen、 Olav.、
出版社：北京 : 科学出版社, 2004.
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索取号：TN431.2/E901.3-2
作者：Hodges、 David A.、 1937-、Jackson、 Horace G.、Saleh、 Resve A.、 1957-、
出版社：北京 : 清华大学出版社 : McGraw-Hill Education (Asia), 2004.
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索取号：R-32/E20051
作者：Machin、 David.、Campbell、 Michael J.、
出版社：Weat Sussex, England : Wiley, c2005.
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索取号：TN710/E20052
作者：Spencer、 Richard R.、Ghausi、 Mohammed Shuaib.、
出版社：Beijing : Publishing House of Electronics Industry : Pearson Education, 2004.
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索取号：TU973/E20051
作者：Taranath、 Bungale S.、
出版社：New York : Marcel Dekker, c2005.
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索取号：TP31/E20051
作者：Satzinger、 John W.、Jackson、 Robert B.、Burd、 Stephen D.、
出版社：Massachusetts : Thomson/Course Technology, c2005.
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索取号：TP311.1/E20052
作者：Mattson、 Timothy G.、 1958-、Sanders、 Beverly A.、Massingill、 Berna.、
出版社：Boston : Addison-Wesley, c2005.
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索取号：R914/E20068
作者：
出版社：New York : McGraw-Hill, c2006.
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索取号：TN431.202/E991.2
作者：Rabaey、 Jan M.、Chandrakasan、 Anantha.、Nikoli?、 Borivoje.、
出版社：北京 : 清华大学出版社, 2004.
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索取号：TB3/E20051.2
作者：
出版社：北京 : Higher Education Press : McGraw-Hill Companies, 2003.
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索取号：TN431.1/E20052.4
作者：
出版社：北京 : Higher Education Press, 2003.
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索取号：TP311.13/E20051.3
作者：Connolly、 Thomas M.、Begg、 Carolyn E.、
出版社：Beijing : Publishing House of Electronics Industry, 2003.
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粤公网安备 44030602003680号