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表面分析 (XPS和AES) 引论 / 原著 (英) John F. Watts, John Wolstenholme

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索取号：O656.9/20081
作者：沃茨、沃斯滕霍姆、吴正龙、
出版社：上海 : 华东理工大学出版社, 2008
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