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The physics of SiO₂ and its interfaces : proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si0₂ and Its Interfaces, held at the IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978

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索取号：O47-53/E803
作者：International Topical Conference on the Physics of SiO₂ and Its Interfaces (1978 : Yorktown Heights、 N.Y.)、Pantelides、 Sokrates T.、
出版社：New York : Pergamon Press, c1978.
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