分类依据:信息存贮技术入此 参见TP343 |
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0 索取号:TP333.4-62/20071 作者:华师傅资讯、 出版社:北京 : 中国铁道出版社, 2007
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0 索取号:TP333.5/E20031 作者:Sharma、 Ashok K.、 出版社:Chichester : Wiley, 2003.
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0 索取号:TP333/E20031 作者:Prince、 Betty.、 出版社:Norwell, Mass. : Kluwer Academic Publishers, c2002.
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0 索取号:TP333.5/E20021 作者:Gustavsson、 Mikael.、Wikner、 J. Jacob.、Tan、 Nianxiong、 1966-、 出版社:Boston : Kluwer Academic, c2000.
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0 索取号:TP333.23/E801 作者:Sebestyen、 L. G.、 出版社:London, Chapman & Hall [1973]
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0 索取号:TP333.15/E803 作者:Luecke、 Gerald.、Mize、 Jack P.、 1923- joint author.、Carr、 William N.、 1936- joint author.、 出版社:New York, McGraw-Hill [1973]
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0 索取号:TP333.15/E801 作者:Intel Marketing Communications.、 出版社:New York : Wiley, 1978.
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0 索取号:TP333-62/E901 作者:Triebel、 Walter A.、Chu、 Alfred E.、 出版社:Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, 1982.
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0 索取号:TP333-62/E801 作者:Texas Instruments Incorporated. Semiconductor Group.、 出版社:[Dallas] : TI, 1975.
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0 索取号:TP333/E901 作者:Ronse、 Christian、 1954-、 出版社:Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1984.
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0 索取号:TP333/E801 作者:Matick、 Richard E.、 1933-、 出版社:New York : Wiley, 1977.
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0 索取号:TP333/E991 作者: 出版社:Weinheim ; New York : VCH, 1992.
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0 索取号:TP333-53/E20051/12 作者:IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、 出版社:Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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0 索取号:TP333.5/E20041 作者:Singh、 Raminderpal.、Harame、 David Louis.、Oprysko、 Modest Michael、 1957-、 出版社:Piscataway, NJ : IEEE Press ; Hoboken,NJ : Wiley-Interscience, c2004.
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0 索取号:TP333.4/E801 作者:Topical Meeting on Optical Storage of Digital Data (1973 : Aspen、 Colorado)、Kozma、A.、Optical Society of America. Information Processing、 Holography、 and Coherence Technical Group.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Quantum Electronics Council.、International Commission for Optics.、 出版社:N.Y. Washington, D.C. : Electronics Engineers Optical Society of America, 1973.
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0 索取号:TP333.15/E802 作者:Semiconductor Memory Test Symposium (1972 : Cherry Hill、 N.J.)、IEEE Computer Society. Mideastern Area Committee.、Institute for Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Chapter.、 出版社:New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1973.
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